一.产品技术质量 1.总体技术要求 *扫描方式：激光手持照相式 *扫描技术：激光线网格扫描技术 帧扫描区域：250mm×230mm 景深：250mm 工作距离：300mm *扫描速率：240000次/秒 扫描分辨率：0.100（毫米） *测量精度：最高0.03mm *体积精度：0.020+0.100（毫米/米） 体积精度（结合DigiMetric）：0.020+0.025（毫米/米） 测量范围（物件尺寸）：0.1～6米，可扩展 传输方式：USB3.0 工作温度：-10-40℃ 工作湿度：10-90% 2.三维光学扫描系统配置与功能要求 (1)数据采集传感器：高速、高精密工业级相机2台 *(2)内置微惯性传感器，实时输出设备位姿； *(3)测量光源：6束交叉激光线，激光级别ClassII(人眼安全)，波长大于600纳米 (4)计算机系统：支持windows7，32位和64位操作系统，支持内存16G以上 (5)拼接方式：系统整合“专业模式”全自动标志点拼接模块 (6)全局误差控制方式：系统整合GRECPro全局误差控制模块 *(7)使用方便：整个过程全部手持完成，无需三脚架等支撑装置 (8)所测量的物体表面可不做任何形式（如贴标识和喷白）的预先处理 (9)普通环境下可以测量鎏金等高光亮物体以及黑色物体 (10)防抖设计：采用先进的防抖动算法，防止扫描过程中人为的抖动对误差的影响 3.三维光学扫描系统软件功能要求 *全中文软件界面 *自适应形面扫描模块 (1)自动调节系统参数，自适应各种材质/颜色表面的不同扫描对象，无需手动调节； (2)可变点距扫描，在同一次扫描中，可对点距进行灵活设置和改变，同时满足高速扫描以及精细扫描的需求 *自动拼接模块 (1)智能标志点识别技术：系统自动跟踪识别标志点； (2)惯性—光学混合式传感器定位技术，实时将数据自动配准到同一坐标系； (3)GRECPro全局误差控制模块，可对拼接后的误差进行全局控制； *全局框架扫描模块 (1)全局框架扫描技术，对框架点累积误差进行全局控制； (2)兼容DigiMetric系统，搭载全局摄影测量技术可将扫描范围扩展至几十米； 点云处理模块 (1)扫描数据后，可进行点云噪声处理及修剪 (2)基于曲率的点云精简功能 (3)自动生成三角面 数据输入输出 (1)导出结果为ASC，STL，OBJ，OKO等格式数据输出接口广泛,测量结果可与CATIA、GeomagicStudio、Imageware等逆向工程软件自由交换数据 其它 *生产企业须通过双软企业认证，拥有国家级发明专利，并通过高新技术企业认定。 供应商必须提供设备的软硬件安装调试。